碳硅分析仪技术应用中还存在哪些问题

发布日期：2017-05-31 00:00 来源：http://www.dlrcyj.com 点击：

碳硅分析仪技术应用中还存在哪些问题

大连碳硅分析仪技术应用于工厂炉前控制，需注重的几个问题固然理论碳硅分析仪技术的应用非常广泛，但由于要求使用者具有一定的理论水平和相当的实践经验，就我国铸造企业实际职员的素质和知识结构情况而言，还很难达到，目前还主要应用在测量铸铁白口化冷却曲线，通过TL、TE的数值推算［C］、［Si］含量的层面上，在使用中经常会出现一些理论和操纵上的困惑与失误。

比较典型的题目，有如下几点： ①、过冷失败的处理：在使用HXD-2C型碳硅分析仪技术分析铁水成份过程中，在某种条件下会出现铁水在共晶凝固过程中不能按照亚稳定系白口方式凝固，呈现共晶温度过冷现象，无法正确判定共晶温度致使测量失败，其原因是主要由于，铁水中含有如Fe、Ti、Si、C等未完全熔化的微小颗粒，在凝固时抵消了Te无素的白口化倾向，起到形核核心的作用。消除此现象方法可采取增加Te加进量，进步铁水温度、延长保温时间，使未完全融化的合金微小颗粒充分熔化。

对于普通碳硅分析仪系统来讲也是如此，普通碳硅分析仪器只进行白口凝固冷却曲线测定，通过捕捉到初晶温度TL、共晶温度TE这两个特征点，由内装的计算机程序计算出碳当量［CE］、碳含量［C］、硅含量［Si］，需要说明的是：铁水成份碳硅分析仪仪报告的［C］、［Si］含量是铁水中所有元素对TL、TE综合作用效果，等效［C］、［Si］元素对TL、TE作用效果的报告。这里面即包含了［C］、［Si］元素的作用，还包含了其他石墨化，反石墨化元素的综合作用。更正确的讲是［C］、［Si］成份的含量，其数值与常规化学分析方法分析出碳含量C％、硅含量Si％是有差别的。

碳硅分析仪